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Issue |
Analusis
Volume 27, Number 6, July/August 1999
Metrology
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Page(s) | 511 - 522 | |
Section | Dossier | |
DOI | https://doi.org/10.1051/analusis:1999270511 |
Analusis 27, 511-522 (1999)
DOI: 10.1051/analusis:1999270511
© EDP Sciences, Wiley-VCH 1999
DOI: 10.1051/analusis:1999270511
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A. Jardy and J. VialWithout abstract
© EDP Sciences, Wiley-VCH 1999
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